Ensimmäinen kansainvälinen metrologian näyttely kimaltelee ja Panran loistaa mittaus- ja ohjaustuotteilla

Mittaus on toimintaa yksiköiden yhtenäistämiseksi ja tarkan ja luotettavan määräarvon varmistamiseksi, ja se on välttämätön ja tärkeä perusta tieteelliselle ja teknologiselle kehitykselle sekä taloudelliselle ja yhteiskunnalliselle kehitykselle.Sitä vastoin mittauskehityksen nopeuttaminen on erittäin tärkeää tieteellisen ja teknologisen innovaation syventämiseksi ja ydinkilpailukyvyn parantamiseksi.

Puolueen Kiinan kommunistisen puolueen 19. kansalliskongressin hengen toteuttamiseksi paremmin toteuttamalla valtioneuvoston mittausten kehittämissuunnitelma (2013-2020), edistämällä edelleen metrologian testausalan edistymistä ja parantamista sekä parantamalla kokonaisvaltaisesti Metrologisen testauksen kyky ja taso Kiinassa, 20. toukokuuta, jolloin on 20. ”maailman metrologian päivä”, KIINAN kansainvälinen metrologian testausalue (Shanghai) kansainvälinen mittaustestausteknologian ja -laitteiden näyttely (CMTE CHINA), joka on Kiinan ensimmäinen ammattitapahtuma Shanghai, ja yrityksemme kutsuttiin osallistumaan messuille.

Tässä näyttelyssä yrityksemme itse kehittämät tuotteet, kuten PR293-sarjan Nanovolt Microhm -lämpömittari, PR203/PR205-sarjan lämpötila- ja kosteusmittari, eivät vain edistäneet kommunikaatiota vertaisten välillä, vaan myös herättivät monien asiakkaiden huomion kotona ja ulkomailla.



Postitusaika: 21.9.2022