3.–5. joulukuuta 2020, Kiinan metrologian akatemian lämpötekniikan instituutin sponsoroima ja Pan Ran Measurement and Control Technology Co., Ltd.:n yhteistyössä järjestämä tekninen seminaari aiheesta "Tutkimus ja kehitys Korkean tarkkuuden vakiolämpömittarit" ja ryhmä "Tarkkuusdigitaalilämpömittarien suorituskyvyn arviointimenetelmiä" Tavallinen kokoamiskokous saatiin onnistuneeseen päätökseen Viiden vuoren pään Tai-vuoren juurella!
Kokoukseen osallistuu pääasiassa lähipiiriin kuuluvia asiantuntijoita ja professoreita eri metrologian instituuteista ja China Jiliang Universitystä.Yrityksemme toimitusjohtaja Zhang Jun kutsuttiin johtamaan tätä kokousta.Zhang toivottaa tervetulleeksi kaikkien asiantuntijoiden saapumisen ja kiittää opettajia tuesta ja avusta Pan Ranille vuosien varrella.Digitaalisten lämpömittarien ensimmäisestä lanseerauksesta on kulunut 4 vuotta.Tänä aikana digitaaliset lämpömittarit ovat kehittyneet nopeasti ja muuttuneet vakaammiksi.Mitä korkeampi ulkonäkö, sitä kevyempi ja tiiviimpi ulkonäkö, mikä on erottamaton nopeasta teknologisesta kehityksestä ja kaikkien tieteellisten tutkijoiden ponnisteluista.Kiitos panoksesta ja ilmoittaa konferenssin alkamisesta
Kokouksen aikana Kiinan metrologian akatemian lämpötekniikan instituutin apulaistutkija Jin Zhijun teki yhteenvedon "korkean tarkkuuden standardin digitaalisen lämpömittarin tutkimus- ja kehitysvaiheesta" ja esitteli korkean tarkkuuden tärkeimmän tutkimussisällön. tavallinen digitaalinen lämpömittari.Selostetaan sähköisten mittauslaitteiden rakenne, näyttövirhe ja stabiilisuus sekä tuodaan esille vakaan lämmönlähteen merkitys ja vaikutus tuloksiin.
Xu Zhenzhen, PANRAN-yhtiön T&K-osaston johtaja, jakoi teeman "Tarkkuusdigitaalisten lämpömittarien suunnittelu ja analyysi".Ohjaaja Xu antoi yleiskatsauksen tarkkuusdigitaalisista lämpömittareista, integroitujen digitaalisten lämpömittareiden rakenteesta ja periaatteista, epävarmuusanalyysistä ja tuotannon suorituskyvystä.Arvioinnin viisi osaa ja useita keskeisiä kysymyksiä jaettiin sekä digitaalisten lämpömittareiden suunnittelua ja analysointia esiteltiin yksityiskohtaisesti.
Jin Zhijun, Kiinan metrologian akatemian lämpötekniikan instituutin apulaistutkija, antoi raportin "2016-2018 Precision Digital Thermometer Test Summarysta", joka esitti kolmen vuoden tulokset.Qiu Ping, Kiinan metrologian akatemian lämpötekniikan instituutin apulaistutkija, jakoi "Keskustelun tavallisiin digitaalisiin lämpömittareihin liittyvistä ongelmista".
Kokouksessa vaihdettiin ja keskusteltiin myös digitaalisten tarkkuuslämpömittareiden, tarkkuusdigitaalilämpömittareiden arviointimenetelmien (ryhmästandardien), digitaalisten tarkkuuslämpömittarien testausmenetelmien ja testaussuunnitelmien kehittämisestä ja soveltamisesta.Tämä vaihto ja keskustelu on tärkeää Kansallisen avaintutkimus- ja kehitysohjelman (NQI) toimeenpanon kannalta."Uuden sukupolven korkean tarkkuuden lämpömittaristandardien tutkimus ja kehittäminen" -projektissa edistyi "Tarkkuusstandardin digitaalisten lämpömittarien tutkimus ja kehittäminen", "Tarkkuussuorituskyvyn arviointimenetelmien" ryhmästandardien kokoaminen. Digitaaliset lämpömittarit”, ja mahdollisuus korvata tavalliset elohopealämpömittarit tarkkuusdigitaalisilla lämpömittareilla on ollut erittäin hyvä.
Tapaamisen aikana asiantuntijat, kuten Mr.Wang Hongjun, Thermal Engineering Institute of China Metrology Instituten johtaja, yhdessä yrityksemme toimitusjohtajan Mr.Zhang Junin kanssa vierailivat yrityksen näyttelyhallissa, tuotantopajassa ja laboratoriossa ja oppivat Yhtiön tieteellinen tutkimus ja tuotantokapasiteetti, yrityksen kehittäminen jne. Asiantuntijat ovat vahvistaneet yrityksemme.Johtaja Wang huomautti, että hän toivoo, että yritys voi luottaa omiin etuihinsa jatkuvasti parantaakseen tieteellisen tutkimuksen ja tuotannon tasoa ja edistääkseen kansallista metrologiateollisuutta.
Postitusaika: 21.9.2022
